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◆ 2000年我公司研制生产的国内第一台分辨率为0.01μΩ的高精度回路电阻测试仪诞生。

◆ 2003年我公司研制生产的采用全自动反干扰法设计的第一台抗干扰介质损耗测试仪TE2000下线．国内首家采用了高压导线可拖地使用，成功的解决了对试品反接测试数据也能准确无误。

◆ 2004年4月公司入驻武汉＂中国光谷＂。

◆ 2004年10月武汉市市长李宪生来公司参观展厅，指导工作。

◆ 2005年公司成功地通过了ISO9001：2000质量体系认证。

◆ 2005年5月国家工商局正式批准＂TESTE＂标志为我公司注册商标。

◆ 2006年公司产品已出口多个国家（见客户名录）。

◆ 2006年7月公司为大同机车厂建立的全封闭式高压试验室已成功验收，质量全优。

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